|
1.引言 为了能够有效地对数字电路进行测试,各种测试生成方法不断涌现[1]。数字电路故障诊断中，核心问题是确定施加什么样的激励，可以使故障激活，同时能在可几端测量出来[2]。关键和难点是测试生成[3]，测试生成指针对电路中一个故障找出能检测该故障的测试码，无论是集成IC芯片还是分立的数字电路，只要有完整的故障定位测试集（测试码的集合），就可准确判断出电路故障。因此,对组合逻辑电路测试生成的研究主要集中在对算法的研究上，测试生成算法的好坏决定着测试技术的好坏。 copyright paper51.com
早在1959年Eldred就提出第一篇关于组合逻辑电路的测试报告，揭开了数字电路故障诊断的序幕。随后，Roth提出的著名的D算法在理论上使组合电路故障检测和诊断达到了最高点，扩展了Eldred基本思想只解决两级以内的组合电路的测试问题。从理论上解决了两级以上组合电路故障检测和诊断问题，即任何一个非冗余的组合逻辑电路中任何单故障都可以用D算法找到它的测试失量[13]。 paper51.com
本文从数字电路的故障特点及基本诊断方法、D算法的基本思想、D算法的基本步骤、实例分析并进行实际测试几个方面，对组合逻辑电路测试生成的主要方法——D算法做了进一步的研究。对数字电路故障诊断技术的发展及中学物理实验有一定的促进作用。 copyright paper51.com 2．组合逻辑电路故障的特点及诊断 http://www.paper51.com 为了对组合逻辑电路进行诊断，须了解故障特点、基本诊断方法。 内容来自论文无忧网 www.paper51.com 2.1故障特点 内容来自论文无忧网 www.paper51.com
数字信号是指在时间上和数值上都是离散的信号.数字电路就是用来变换和处理这种离散信号的电路。数字电路是采用具有两个状态的元器件来表示信息，其基本电路单元很简单，电路中每个元器件参数值有较大的分散性。在数字电路中很少研究数字信号所表示的波形如何，只要能区分高电平和低电平两种状态即可。 内容来自论文无忧网 www.paper51.com 组合逻辑电路由各种门电路组成，输入和输出之间没有反馈连线。在任何时刻组合逻辑电路的输出，只取决于该时刻各个输入端的状态，与电路原来的输出状态无关，也即电路无记忆功能。 内容来自www.paper51.com
2.2诊断的基本方法 http://www.paper51.com
数字电路的故障诊断包括故障检测和故障定位。组合逻辑电路诊断的关键是找到故障定位测试集。目前主要诊断方法有：穷举测试法、伪穷举测试法和测试码生成法。 http://www.paper51.com 2.2.1穷举测试法： 内容来自论文无忧网 www.paper51.com 穷举测试法是指在被测电路的输入端，输入所有可能的测试码，观察电路输出是否符合一定的逻辑功能。 paper51.com |