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1、引言 随着超大规模集成电路（VLSI）技术的产生和发展, 数字电路的集成度急剧增加,使得数字电路的测试变得越来越困难, 电路的故障测试已成为集成电路设计与生产的重要组成部分,为了能够有效地对数字电路进行测试,各种测试生成方法不断涌现[1]。数字电路故障诊断中，核心问题是确定施加什么样的激励，可以使故障激活，同时能在可几端测量出来[2]。关键和难点是测试生成[3]，测试生成指针对电路中一个故障找出能检测该故障的测试码，因此,对组合逻辑电路测试生成的研究主要集中在对算法的研究上，测试生成算法的好坏决定着测试技术的好坏。 paper51.com Eldred在1959年提出第一篇关于组合逻辑电路的测试报告，揭开了数字电路故障诊断的序幕。但Eldred提出的方法只解决两级以内的组合电路的测试问题。其后，D.B.Armstrong根据Eldred的基本思想提出了一维通路敏化的方法，其主要思想是对多级门电路寻找一条从故障点到可几输出端的敏化通路，使得在可几输出端观察到故障信号，利用此种方法，解决了相当多的组合电路的故障问题。Yau和Seller等提出了布尔差分算法，Thayse提出了布尔微分算法，Roth提出的D算法理论解决两级以上的组合电路故障检测和测试问题。 paper51.com 本文从故障模型、D算法的基本思想、D算法的基本步骤、实例分析并进行实际测试几个方面，对数字电路测试生成的主要方法——D算法做了进一步的研究，对数字电路故障诊断技术的发展有一定的促进作用。 内容来自论文无忧网 www.paper51.com
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